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HDD/SSDコンパクト
バーンインテストシステム
本システムは、当社SMART TESTERシリーズと組み合わせて、ストレージメディアの温度環境評価を行うためのテスターです。
当社がご提供する小型バーンインテストシステムは、AC100V電源でお使い頂けます。
※低温試験をご希望の場合も、お気軽にご相談ください。
【サポートインターフェース】
- PCIe Gen4
- PCIe Gen3
- SATA III
- SAS II(Option)
【サポートプロコトル】
- NVMe 1.4
- NVMe 1.3
- AHCI
【サポートSSD種類】
- Add-in Card
- M.2
- U.2
- EDSFF
用途
SSDの製品評価
SSDの信頼性評価
特徴
最大4台のSSDを同時に試験することが可能。
コンパクトなシステムであり、机上でバーンイン試験することが可能。
ドライブユニットを選択することにより、アドインカードタイプ、 M.2、 U.2、 EDSFFの試験が可能。
幅広い温度範囲の試験が可能。（常温～+85℃）
ドライブのインターフェースは、PCIe Gen4、 PCIe Gen3、 SATA、 SASに対応。
ドライブ用供給電源は2系統。（PCIe Gen4/Gen3 : 3.3V, 12V SATA/SAS : 5V, 12V）
ドライブがセットされているポート毎に独立した制御と、電圧、電流の計測が可能。
温度制御とインターフェース試験を同期させた試験が実施可能。
ポートに搭載されているLEDにより、試験の状態および結果を判別可能。
SSDの低消費電力モード（L1.2）における微小電流測定をサポート。（測定精度：±5%rdg.±10dgt.：100μA～1mA時）
ポート数、温度範囲等のカスタマイズが可能。
モデル
| バーンインユニット詳細 | 構成 | 仕様 |
|---|---|---|
| 対応システムのユニット詳細 | 構成 | 仕様 |
| 対応システム導入例 | 導入例 | |
PCIe Gen3対応システム
| バーンインユニット詳細 | 構成 | 仕様 |
|---|---|---|
| 対応システムのユニット詳細 | 構成 | 仕様 |
SATA/SAS対応システム
| バーンインユニット詳細 | 構成 | 仕様 |
|---|---|---|
| 対応システムのユニット詳細 | 構成 | 仕様 |
構成
インターフェースごとの構成を以下に示します。
バーンインユニット ※全インターフェース共通
Compact Burn-in Chamber
PCIe Gen4対応システム
・制御ユニット SMART TESTER for PCIe G4
| ・ドライブユニット ご希望の被試験品種類に合わせて以下よりお選びください。 | ||
| 被試験品種類 | Add-in Card / M.2 / U.2 | EDSFF |
|---|---|---|
| ユニット名 | M.2-G4 Drive |
EDSFF-G4 Drive |
PCIe Gen3対応システム
・制御ユニット SMART TESTER for PCIe G3
| ・ドライブユニット ご希望の被試験品種類に合わせて以下よりお選びください。 | |||
| 被試験品種類 | M.2 | Add-in Card / M.2 / U.2 | EDSFF |
|---|---|---|---|
| ユニット名 | M.2-G3 Drive |
Multi-Drive |
EDSFF-G3 Drive |
SATA/SAS対応システム
・制御ユニット SMART TESTER for 6G
| ・ドライブユニット | |
| 被試験品種類 | SSD 2.5inchタイプ / M.2 |
|---|---|
| ユニット名 | SATA/SAS Drive |
導入例
PCIe Gen4対応 M.2 SSDのバーンイン試験を行う場合のユニット導入例
仕様
| バーンインユニット | |
| 名称 | Compact Burn-in Chamber |
|---|---|
| 電源 | AC100V |
| 最大電流 | 5A |
| 外形寸法 WxDxH[mm] | 470x710x650 |
| 槽内寸法 WxDxH[mm] | 410x530x370 |
| 質量 | 10kg |
| 環境温度 | +15℃～+30℃ |
| 温度制御範囲 | 常温～85℃ |
| 空間温度偏差 | ±2℃ |
| 温度上昇速度 | 1℃/3分 |
※仕様は予告なく変更になる場合がございます。
| PCIe Gen4対応システム | ||
| 制御ユニット & ドライブユニット | ||
| 被試験品積載数 | 最大4個 | |
|---|---|---|
| 対応インターフェース | Gen2 / Gen3 / Gen4 | |
| レーン数 | 最大4レーン | |
| サポートプロトコル | NVMe 1.4 / NVMe 1.3 / AHCI | |
| ドライブ供給電圧 | 12.0V 系 出力電圧：8.0V～14.5V 20mV ステップ可変 電圧精度：設定電圧±100mV 負荷電流：3.5Amax 3.3V 系 出力電圧：2.0V～ 4.0V 10mV ステップ可変 電圧精度：設定電圧± 50mV 負荷電流：4.2Amax |
|
| ドライブ電源電圧測定 | 12.0V 系 0.0V～ 15.0V 測定精度±3%F.S. 分解能：約 7.9mV 3.3V 系 0.0V～ 5.0V 測定精度±3%F.S. 分解能：約 3.5mV 測定間隔 125μsec～200msec 間隔(125μsec ステップ) 最大 65520 サンプル |
|
| ドライブ電源電流測定 | 12.0V 系 0.0A～ 4.0A 測定精度±3%F.S 分解能：約 2.0mA 3.3V 系 0.0A～ 5.0A 測定精度±3%F.S 分解能：約 2.6mA 測定間隔 125μsec～200msec 間隔(125μsec ステップ) 最大 65520 サンプル |
|
| 制御ユニット | ||
| 名称 | SMART TESTER for PCIe G4 | |
| 外形寸法 WxDxH[mm] | 350x330x190 | |
| 重量 | 6kg | |
| ドライブユニット | ||
| 名称 | M.2-G4 Drive | EDSFF-G4 Drive |
| 被試験品種類 | Add-in Card(Standard) M.2(2230-22110) U.2(SFF8639) |
EDSFF |
| 耐熱温度 | 常温～85℃ | 常温～85℃ |
| 外形寸法 WxDxH[mm] | 290x340x340 | 300x500x290 |
| 重量 | 9kg | 11kg |
| 被試験品用アダプタ | 別途必要 | 別途必要 |
※仕様は予告なく変更になる場合がございます。
| PCIe Gen3対応システム | |||
| 制御ユニット & ドライブユニット | |||
| 被試験品積載数 | 最大4個 | ||
|---|---|---|---|
| 対応インターフェース | Gen2 / Gen3 | ||
| レーン数 | 最大4レーン | ||
| サポートプロトコル | NVMe 1.4 / NVMe 1.3 / AHCI | ||
| ドライブ供給電圧 | 12.0V 系 出力電圧：8.0V～14.5V 20mV ステップ可変 電圧精度：設定電圧±100mV 負荷電流：3.5Amax 3.3V 系 出力電圧：2.0V～ 4.0V 10mV ステップ可変 電圧精度：設定電圧± 50mV 負荷電流：4.2Amax |
||
| ドライブ電源電圧測定 | 12.0V 系 0.0V～ 15.0V 測定精度±3%F.S. 分解能：約 7.9mV 3.3V 系 0.0V～ 5.0V 測定精度±3%F.S. 分解能：約 3.5mV 測定間隔 125μsec～200msec 間隔(125μsec ステップ) 最大 65520 サンプル |
||
| ドライブ電源電流測定 | 12.0V 系 0.0A～ 4.0A 測定精度±3%F.S 分解能：約 2.0mA 3.3V 系 0.0A～ 5.0A 測定精度±3%F.S 分解能：約 2.6mA 測定間隔 125μsec～200msec 間隔(125μsec ステップ) 最大 65520 サンプル |
||
| 制御ユニット | |||
| 名称 | SMART TESTER for PCIe G3 | ||
| 外形寸法 WxDxH[mm] | 250x310x130 | ||
| 重量 | 7kg | ||
| ドライブユニット | |||
| 名称 | M.2-G3 Drive | Multi-Drive | EDSFF-G3 Drive |
| 被試験品種類 | M.2(2230-22110) | Add-in Card(Standard) M.2(2230-22110) U.2(SFF8639) |
EDSFF |
| 耐熱温度 | 常温～85℃ | 常温～85℃ | 常温～85℃ |
| 外形寸法 WxDxH[mm] | 400x160x60 | 250x230x160 | 300x500x290 |
| 重量 | 3kg | 9kg | 11kg |
| 被試験品用アダプタ | 不要 | 別途必要 | 別途必要 |
※仕様は予告なく変更になる場合がございます。
| SATA/SAS対応システム | |
| 制御ユニット & ドライブユニット | |
| 被試験品積載数 | 最大4個 |
|---|---|
| 対応インターフェース | SATA III, SAS II(Option), PATA(Option) |
| ドライブ供給電圧 | 5.0V 系 出力電圧：2.0V～ 6.0V 10mV ステップ可変 電圧精度：設定電圧±50mV 12.0V 系 出力電圧：8.0V～ 14.5V 10mV ステップ可変 電圧精度：設定電圧±100mV |
| ドライブ電源電圧測定 | 5.0V 系 0.0V～ 15.0V 測定精度±1.5%F.S. 分解能：1mV 12.0V 系 0.0V～ 15.0V 測定精度±1.5%F.S. 分解能：1mV 測定間隔 125μsec～200msec 間隔(125μsec ステップ) 最大 65520 サンプル |
| ドライブ電源電流測定 | 5.0V 系 0.0A～ 4.0A 測定精度±3%F.S 分解能：1mA 12.0V 系 0.0A～ 4.0A 測定精度±3%F.S 分解能：1mA 測定間隔 125μsec～200msec 間隔(125μsec ステップ) 最大 65520 サンプル |
| 制御ユニット | |
| 名称 | SMART TESTER for 6G |
| 外形寸法 WxDxH[mm] | 259x258x58 |
| 重量 | 3kg |
| ドライブユニット | |
| 名称 | SATA/SAS Drive |
| 被試験品種類 | SSD 2.5inchタイプ M.2(2230-22110) |
| 耐熱温度 | 常温～85℃ |
| 外形寸法 WxDxH[mm] | 150x200x60 |
| 重量 | 6kg |
| 被試験品用アダプタ | 不要 |
※仕様は予告なく変更になる場合がございます。