SSD(PCIe)
バーンイン装置

本装置は、PCI Express対応のSSDのバーンイン試験を行うための装置です。

【サポートインターフェース】

  • PCIe Gen4
  • PCIe Gen3

【サポートプロコトル】

  • NVMe 1.4
  • NVMe 1.3
  • AHCI

用途

SSDの製品の製品評価
SSDの製品の信頼性評価

特徴

最大96台の同時試験が可能。
幅広い温度範囲(常温~+75℃)。
ドライブのインターフェースは、PCIe Gen3/NVMe 1.3まで対応。
ドライブ用供給電源は 2系統(3.3V,12V)。
ポート毎および系統毎に独立した制御と電圧と電流の計測が可能。
温度制御とInterface試験を同期させた試験が実施可能。
SMART TESTER for PCIeと同じスクリプトおよびオプションソフトウェアが使用可能。
ポートに搭載されているLEDにより、試験の状態および結果を判別可能。
SSDの低消費電力モード(L1.2)における微小電流測定をサポート(測定精度:±5%rdg.±10dgt.:100μA~ 1mA時)。
ポート数、温度範囲等のカスタマイズが可能。

モデル

H96PB-P3F4

仕様

名称 PCI Express対応バーンイン試験装置
型式 H96PB-P3F4
槽外形寸法 1000mm(W)×1400mm(D)×1900mm(H) ※最大突起部含まず
設置スペース 2400mm(W)×3550mm(D)×2000mm(H)
本体重量(kg) 630kg
使用環境 外気温度: 22℃~28℃ 外気湿度: 20~80%RH ※結露なきこと
装置の電源電圧及び消費電流 交流3相 AC 200V ±10%以内 50/60Hz
消費電流 40A
ユーティリティ -
安全装置 過昇温防止機能
非常停止ボタン
非常停止または停電後の自動復帰防止機能
被試験物搭載数 96 台
被試験物種類 種類:PCI Express I/F 対応SSD
対応 I/F:PCIe Gen4 / PCIe Gen3
Lane数:4 (最大)に対応
NVMe 1.4, NVMe 1.3, AHCIプロトコルをサポート
許容発熱負荷: 15W/port
許容サイズ: アドインカードタイプ HHHLサイズ(167.65mm(W)×111.15mm(D)×15mm(H))
※PCブラケットは非対応
温湿度制御範囲 (室温 +10℃) ~ +75℃
温度精度 ±3℃以内(安定時:)
湿度精度 -
ドライブ供給電圧 12.0V 系 出力電圧:8.0V~14.5V 20mV
ステップ可変 電圧精度:設定電圧±100mV
負荷電流:3.5Amax
3.3V 系 出力電圧:2.0V~ 4.0V 10mV
ステップ可変 電圧精度:設定電圧± 50mV
負荷電流:4.2Amax
ドライブ電源電圧測定 12.0V 系 0.0V~ 15.0V 測定精度±3%F.S. 分解能:約 7.9mV
3.3V 系 0.0V~ 5.0V 測定精度±3%F.S. 分解能:約 3.5mV
測定間隔 125μsec~200msec 間隔(125μsec ステップ) 最大 65520 サンプル
ドライブ電源電流測定 12.0V 系 0.0A~ 4.0A 測定精度±3%F.S 分解能:約 2.0mA
3.3V 系 0.0A~ 5.0A 測定精度±3%F.S 分解能:約 2.6mA
測定間隔 125μsec~200msec 間隔(125μsec ステップ) 最大 65520 サンプル

※ 上記の仕様は予告無く変更することがあります。