SMART TESTER
for PCIe

SMART TESTER for PCIe は、SSDの性能や信頼性を評価/解析するテスターです。

【サポートインターフェース】

  • PCIe Gen4
  • PCIe Gen3

【サポートプロコトル】

  • NVMe 1.4
  • NVMe 1.3
  • AHCI

用途

ストレージメディアの選定評価、受け入れ検査、不具合解析。

特徴

  1. SSDの発熱対策万全のクーリングストラクチャー
  2. 専用スクリプトにより専門性の高い評価を柔軟に実行
  3. ドライブパフォーマンスを解りやすくグラフ化表示
  4. ドライブの電源制御/計測が可能(電源遮断、電圧可変)
  5. 環境試験装置と組み合わせたご提案
  6. SNIA SSS・PTSに準拠した世界標準の性能評価を行えます
  7. ドライブ評価コンサルタントを承ります(Option機能が含まれますのでご相談ください)

主な機能

世界標準のベンチマークテスト

世界標準のテスト仕様をHIROTAのオリジナル ソフトウエアシステムで快適に実行できます。

  • TBW Test (for Enterprise & Client)
    JEDEC 218,219による、書き込み耐性評価
    • Endurance
    • Data Retention
    • Read Disturb
  • SNIA SSS PTS (for Enterprise & Client)
    定常状態に至った段階での限界性能を評価します。

Vender Unique アクセス テスト

  • 基本情報管理
    • SMART データ ユーザー閾値設定/判定
    • フォーマット(Protocol, Secure erase, Sanitize, Trim)
    • Que depth コントロール
  • 書込み耐性評価
  • 性能評価
  • Degradation アクセス評価(Swing, Butterfly, Accordion)

充実のPower Management

ノイズ、発振など、劣悪な環境を創り出して評価します。
計測したグラフの波形からメディアの挙動を確認します。

  • 電源ON/OFF(トランジションタイム制御)
  • 電源遮断評価(データ保持性)
  • 省電力評価(Dev.Sleep, CLK Req)(微小電量継続(μA)機能サポート)

ドライブパフォーマンスを解りやすくグラフ化表示

すべての試験結果を自動でログ化し、またグラフ等GUIで解りやすく表示します。
長期間に渡るデータ採取や、ベンチマークテストには最適です。

グラフは同一ドライブに振動を加えた場合のパフォーマンス比較です。自動保存されている過去のデータと重ねて比較したり、2つのドライブをリアルタイムに比較する事ができます。

ドライブパフォーマンスベンチマーク評価

同時に様々な条件でアクセスし、パフォーマンス、IOPSを計測することが可能です。
ドライブの持つ特性を比較評価できます。

  • Seqential Read
  • Random Read
  • Seqential Write
  • Random Write

電流/電圧の計測機能と可変機能

ドライブの電流/電圧を計測することができます。 また、供給電源をユーザーが任意に可変して計測することもできます。(10mV Step)
電流/電圧の計測では、125μs間隔でサンプリングすることができ、ピークホールドも正確に計測することができます。

電流電圧測定グラフ

幅広いユーザーから受け入れられる操作性

簡易試験モードによる解りやすい操作性

転送速度測定など、複数の試験条件を選択方式で組み合わせる機能を標準搭載しております。
GUIによる操作のため、誰にでも簡単に操作して頂けます。

技術者にも納得頂ける機能の充実

スクリプトを組むことによりお客様独自の試験を構築することができます。
多彩なコマンドやスクリプトデバッグ機能を標準搭載しており、よりスムーズに独自の試験を構築することができます。
また、当社にてスクリプト作成のお手伝いも致します。

環境試験装置と組み合わせたご提案

SSDは使用環境により、劣化や性能に大きな影響を受けトラブルの基へつながっていきます。
メーカーやモデルで差があり、使用する用途によってSSDを選定する事は非常に大切です。
恒温槽を用いて温度負荷をかけた試験など、様々な試験方法をご提案致します。
詳細につきましては、ご相談を承っておりますのでお気軽にお問い合わせください。

例) ドライブユニット(4ポート)、耐熱性 -40 ~ 85℃(メーカー実績値)

量産用評価装置への展開

量産工程でご使用頂く大型装置への展開が可能です。
温度/湿度と同期を取りながら評価を行う事で、ドライブの信頼性向上をご提案します。
各種カスタム対応でご提供させて頂きますので、お気軽にご相談下さい。

【バーンイン試験装置】

  • 温度制御範囲
    無付加時:(室温 +10℃) ~ +65℃
  • 温度精度 安定時 : ±3℃以内
  • 接続ドライブ数 192ポート/台(2.5inch)

【恒温恒湿試験装置】

  • 温度制御範囲
    無付加時:温度 -35℃ ~ +90℃
         湿度 5%RH ~ 95%RH
  • 温度精度 安定時 : ±3℃以内
  • 接続ドライブ数 64ポート/台(2.5inch/3.5inch)

モデル

【PCIe Gen4(4Lane) Type 】
Model Name: SMART TESTER for PCIe G4
Model No : H4PC-P4

【PCIe Gen3(4Lane) Type 】
Model Name:SMART TESTER for PCIe
Model No : H4PR-P3F4(Gen3) / H4PC-P4(Gen4)

仕様

型式 H4PR-P3F4(Gen3) / H4PC-P4(Gen4)
インターフェイス PCIe Gen4 / PCIe Gen3 (4Lane)
Support Protocol : NVMe 1.4, NVMe 1.3, AHCI
評価デバイス Add-in Card(Standard)
M.2(2230-22110) / U.2(SFF8639)
Cfexpress Card
評価ポート 4port
入力電源 AC95~245V 50/60Hz
外形寸法 W370×D310×H530mm(Gen3)

※1. 仕様は予告なく変更になる場合がございます。 操作用パソコンは、本製品構成に含まれていません。
※2. 制御性能、測定分解能については、お問い合わせください。

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